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超微电子元器件芯片高精度镀层测厚仪
技术参数
元素分析范围：氯（CI）-铀（U）
厚度分析范围：各种元素及有机物
一次性分析：23层镀层，24种元素
厚度Zuidi检出限：0.005um
Zuixiao测量面积:0.002m㎡
对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）
样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
仪器尺寸：550mm*480mm*470mm
仪器重量：55kg
膜厚测试仪波谱校准
不关机状态下每日必做一次或每次关机3小时以上重开机必做，目的让仪器进行自我补偿调整。点击任务栏中的“波谱校准”，将波谱校准片放入仪器，将Cu-Ag合金部分移至十字线中间，测膜厚仪，镭射聚焦，测量（点击Go键）。待膜厚测试仪器自动完成每一步，红色STOP键会转变成绿色GO键后，将纯Ag部分移至十字线中间，镭射聚焦，测量（点击Go键），完成后出现“波谱校准成功”字样的对话框时，点击“确定”即可。若不成功，检查是否做错，或中途是否停止过，或有无移动过波谱片，此时需要重新完整再做一次波谱校准。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。
膜厚测量仪探头使用问题
在检测胶片厚度的过程中经常发现芯的磨损更厉害，有些可以说是严重损坏。
磨损作为探针在使用中是一种正常现象。如果用户注意他们的特点，他们的服务寿命将延长。常见的问题是，在测量中，由于向下的测试，用户倾向于较低地tui下桥墩，并且很容易引起探头头部的故障很长一段时间。
使用探针的正确方法是将探针轻轻地压在被测工件的一厘米表面上，因为探针在设计中建立了一个感应压力弹簧，只是轻轻按压。
另一点，在反复运动的过程中探测，容易敲击、碰撞和碰撞其他物体，也容易造成头部损坏，沧州欧谱，如果工作条件允许，测量头可以固定，工件将被测量到接触。CT探头，从而减少探头凸点。在另一种情况下，每当测量一个点时，有必要在不拉平的情况下提起探头，以减少芯部的磨损。
Zui后，探头必须远离强磁场，厚膜测试仪，以免改变探头的固有频率，使探头无法工作。适当的操作将延长仪器的使用寿命。
江苏一六仪器 镀饰，首饰类镀层分析通用型测厚仪
技术参数
元素分析范围：氯（CI）-铀（U）
厚度分析范围：各种元素及有机物
一次性分析：23层镀层，24种元素
厚度Zuidi检出限：0.005um
Zuixiao测量面积:0.002m㎡
对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）
样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
仪器尺寸：550mm*480mm*470mm
仪器重量：55kg
膜厚仪是一种比较精密的监测设备，它在平时的使用中对于精准度的要求很高，还是会有误差的现象发生，膜厚仪，除了仪器本身的一些故障以外，环境因素也是造成误差的一大“元凶”。
膜厚测试仪出现下列情况，必需重新校准。
1.校准时，输入了一个错误值；操作错误。
2.在直接方式下，如果输入了错误的校准值，应紧接着做一次测量，膜厚仪原理，随后再做一次校准，即可获取新值消除错误值。
3.每一组单元中，只能有一个校准值。
4.零点校准和二点校准都可以重复多次，以获得更为精准的校准值，提高测量精度但此过程中一旦有过一次测量，则校准过程便告结束。
一六仪器(图)-测膜厚仪-膜厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）在专用仪器仪表这一领域倾注了无限的热忱和热情，一六仪器一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创。相关业务欢迎垂询，联系人：邓女士。