江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪 一次性分析：23层镀层，镀锌测厚仪，24种元素
厚度Zuidi检出限：0.005um
性能优势
精密的三维移动平台
卓越的样品观测系统
先进的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，测厚仪，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦
直接点击全景或局部景图像选取测试点
点击软件界面测试按钮，电镀测厚仪，自动完成测试并显示测试结果
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X荧光涂镀层测厚仪测试原理
同样，L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα射线，同样还可以产生Kβ射线 ，L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley)发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下: λ=K(Z-s)-2这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，覆层测厚仪，可以进行元素定量分析。
江苏一六仪器有限公司 专业镀层测厚检测 欢迎来电详询！
X射线荧光光谱分析可以非破坏性完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用Zui为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层分析等特点。
电镀测厚仪-测厚仪-一六仪器由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）位于江苏省昆山市玉山镇成功路168号。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前一六仪器在专用仪器仪表中享有良好的声誉。一六仪器取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。一六仪器全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。