一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪可调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,超声波测厚仪,可连续自动测定,利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
测定部显示尽像的表示:X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
江苏一六仪器 XTU系列 XTU-BL X荧光光谱仪
仪器规格:
外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (长x宽x高)
样品仓尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (长x宽x高)
仪器重量 :55kg
供电电源 :交流220±5V
功率 :330W
环境温度:15℃-30℃
环境相对湿度:<70%
EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的,油漆测厚仪,根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用,可以对样品进行微区成分分析。
常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离,产生若干电子-空穴对,其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对,经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器,并计数能谱中每个能带的脉冲数。
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江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。
先进的技术,专业的团队,严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。
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二. 磁感应测量原理镀层厚度分析仪
采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测厚仪,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,漆膜测厚仪,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。磁性原理测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。
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