雷云光电推出首款VA-70NIR锥光成像分析仪，锥光镜头可在±70°视角条件下获取多种视角测量数据。灵活搭配PROICM专业软件，可测量500-1100nm波长范围的发射器的辐射强度的角度分布，完整的提供了整个视角范围内准确、快速的测量结果。可有效应用在人脸识别传感器、3D传感器、TOF结构光激光器、VCSEL、近红外发射器等等。
● VA-70NIR锥光成像仪配置了2500万像素分辨率探测器，搭载±70°大视角锥光镜头，可测量500-1100nm波长范围的发射器的辐射强度的角度分布，完整的提供了整个视角范围内准确、快速的测量结果。
● ProICM测试软件提供直观的系统设置和数据分析，包括2D图形、等距图、雷达图等图形分析功能。
● 通过内置图像缓冲内存以及千兆网接口实现高速测量和数据传输。
● 通过选配的滤光片轮可轻松实现多波长的检测。
应用
● 人脸识别传感器
● 3D传感器
● TOF结构光激光器
● VCSEL
● 近红外发射器
型号 | VA-70NIR |
探测器 | 23*23mm |
总像素 | 2621万 |
像素分辨率 | 5120*5120 |
测量功能 | 辐射强度、辐射通量、角度分布 |
曝光时间 | 80us~10sec |
波长范围 | 500-1100nm之间各种单波长 |
滤光片 | 单个波长滤光片或多个波长滤光片 |
角度分辨率 | 0.039° |
测量直径 | 4mm |
测量距离 | 3mm |
视角范围 | ±70° |
尺寸 | 180*180*453mm(含镜头长度) |
接口 | LAN、Trigger |
工作温度 | 10~40°C |
供电电压 | AC电源适配器 |
* 规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。
