CS系列分光辐射度计其核心一是应用HAMAMATSU的TE-cooled背照式制冷CCD探测器，二是对称式低杂散光光路设计。相对于一般的高精度快速光谱仪，具有高灵敏度、低杂散光、宽动态范围、高重复性稳定性等优点。适用于公司科研、国家地方光电实验室以及专业检测机构等。
CS系列分光辐射度计 特性
极低的杂散光
结合新光路设计技术实现分光光路与传感器的完美匹配，同时结合独创的FCT技术，并将NIST杂散光校正技术辩证结合，使杂散光水平比原有水平降低超过一个数量级。
高灵敏度
采用HAMAMATSU科研级高灵敏度阵列探测器，背照式CCD传感器，具有内部TE致冷、BINNING等优良特性。
多种型号选择满足你不同的应用需求：
工业级CS-4000，多种波长范围选择，价格经济，通过一系列可以互换的光测量附件即可轻松实现定制化。
科研级CS-6500，采用二维阵列探测器，多种波长范围选择。像素列的叠加使得信噪比大大提升（37000：1），外围电路将信号数字化添加使得探测器的信号处理速度与其他线性CCD相比更为快速。TE制冷型探测器（低至-15°C）具有低噪音、低暗信号的特点，低亮度级别测试、长积分时间从8毫秒到15分钟（类似于照相机的快门速度）得以实现。
实验级CS-4500，采用二维阵列探测器，多种波长范围选择，具有强大的电子系统:带有自动清零功能的16位A/D转换器(增强的电子暗电流校正);采用EEPROM存储校正系数,方便操作;电子快门可使积分时间短达到10毫秒--有效地避免探测器饱和，而且CS-4500的信噪比可以达到4700:1，光学分辨率(FWHM)为0.03-8.4nm(依赖于选用的光栅和入射狭缝)。
CS系列分光辐射度计 规格
型号 | CS-4000 | CS-4500 | CS-6500 |
探测器范围 | 300-1100纳米 | ||
传感器 | CMOS传感器 | 热电制冷面阵CCD（薄型背照式） | |
像素 | 3648像素 | 2048*64像素 | 1024×64像素 |
波长范围 | 350-850纳米 | 350-1050纳米 | 360-930纳米 |
信噪比 | 300：1全光谱 | 4700：1全光谱 | 37000:1全光谱 |
A/D分辨率 | 16位 | ||
积分时间 | 3.8毫秒-10秒 | 10毫秒-65秒 | 8毫秒-65分钟 |
制冷 | —- | 0° | -10° |
杂散光 | <0.05% | ||
校正线性度 | >99.8% | ||
色温范围 | 1500-35000K | 1500-35000k | |
亮度范围* | 0.1~100000cd/m^2 | 0.005~100000cd/m^2 | 0.001~100000cd/m^2 |
亮度精度 | +/-2%（@标准A光源） | ||
亮度重复性 | +/-0.1%（@标准A光源） | ||
色度精度 | ±0.0003（标准A光源） | ±0.0003(标准A光源) | |
色度重复性 | +/-0.0002（@标准A光源） |
*¹亮度和色度的测量基于雷云光电条件下（使用亮度1000cd/m^2标准光源，LED背光源，6500K色温LCD显示器）。
*亮度范围视使用探头或光斑大小而定。
*规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。
