SOE测试仪

                  SH-SOE测试仪

SOE(sequenceofevent)事件顺序记录功能是DCS系统一个重要的功能。它所记录的事件发生时间、首发事件和连锁发生事件的间隔顺序，是系统故障和异常分析的Zui重要依据。作为一个如此重要的子系统，在系统检修过程中非常有必要对SOE的记录准确性进行校验。有很多的现场事例表明：SOE系统在经过长时间运行之后可能会出现通道失灵、漏记、错记等现象。比如，有时SOE记录的异常事件顺序或间隔在逻辑上是明显错误的，那么在事故分析时就很难确定事故原因，无法判断首发事件点，通过一个准确测试仪器对SOE功能进行验证就显得非常必要了

本仪器使用先进的ARM控制器，时间精度优于0.01毫秒，上位机软件仅编辑时序数据，通过USB通讯给ARM控制器，ARM控制器实现时序脉冲发送。使用非常方便。

测试仪可直接与DCS系统的SOE卡件连接，也可直接或间接与其它设备连接。可用于测试DCS系统SOE卡件的时间分辨率，DCS系统的站间同步等技术指标。也适用于其它设备如故障录波装置的开关量事件分辨率等的测试。

SOE测试仪通过一级计量院校准。

主要功能及特点

• 通道数：8通道；

• 隔离：光电隔离，每个通道独立连接不分极性；

• 耐压：DC300V；

• 触发间隔：0.1ms-999.9ms（设置Zui小时间间隔：0.1ms为单位可调）；

• 间隔误差：不大于0.01ms,（间隔1mS测试）

• 连续脉冲串数量：任意波形8×10个【每个通道，任意高低脉宽、任意间隔脉冲】；

• 定脉宽脉冲串数量（任意占空比）8×200个【每个通道各200个定高低脉宽脉冲】

• 可输出时间范围：0.1ms～6000.0ms

• 功率消耗：<50w

• 工作温范围：-10-55℃

• 整机重量：5kg