热像仪销售福禄克FlukeTi400红外热像仪
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Fluke Ti400 热成像仪
详细的技术指标 | |
温度 | |
温度测量范围(-10°C 以下未校准) | -20 °C至 +1200 °C |
温度测量精度 | ± 2 °C或 2 % (处于 25°C 额定温度时,取较大值) |
屏显发射率校正 | 是(根据数字和表格) |
屏显反射背景温度补偿 | 是 |
屏显传输校正 | 是 |
成像性能 | |
图像捕获频率 | 刷新率:9 Hz 或 60Hz(取决于型号) |
探测器类型 | 320 x 240像素焦平面阵列,非致冷型微测辐射热计 |
热敏度 (NETD) | 30 °C目标温度时,≤ 0.05 °C(50 mK) |
总像素 | 76,800 |
红外光谱带 | 7.5 μm至 14 μm(长波) |
可视(可见光)照相机 | 工业性能,500 万像素 |
标准红外镜头类型 | |
视场 | 24 ° x 17° |