MLCC可靠性测试系统
[ HALT /8585 ]
1.系统概述
□系统控制柜：
□ 技术规格：
区分 | HALT | 8585 |
型号 | MRA-1600 | MRA-1600H |
测试条件 | -20 ~150 ℃ | -20 ~100 ℃, 20 ~ 98 %rh |
元器件测试数量 | 1600个 (40 个/基板 ´ 20 /测试舱 ´ 2 测试舱) | |
施加电压1) | 0 ~350 V | |
MAX电流2) | 20 mA( Option 50 mA ) | |
阻抗范围3) | 1.5kW ~1 GW | |
周期时间4) | 8min/cycle + | |
外部尺寸 | •控制柜: 1190W x 1600H x 900D mm3 •温湿度测试柜 : 910W x 1440H x 873D mm3 | |
总重量 | ~ 800kg | |
安全保护 | 过热保护/紧急停止开关 | |
1）供电4组
*MAX施加电压 : 350 V (1000 V 版本可选)
2）MAX电流 =截止电流电平
3）在施加 300 V电压的情况下
4）周期测量间隔 : *少8分钟(1分钟增量调节)
2.系统特点及优势
□MLCC信赖性评价*优化的系统
1.采用HALT/8585专用高精度继电器B/D，测量精度显著提高
-使用精密级标准电阻的漏电流测量电路
-与电流测量方式相比,没有电流的路径变化或瞬间短路,可以进行稳定的测量
2. 尽量减少循环测量时间
-尽量减少各通道的漏电流测量时间
- 通过缩短测量间隔来提高各元器件的失效时间(TTF)精度
3. 超过允许电流值时立即切断该通道电压
-阻断瞬时电流增加对其它元器件测量的影响
- 稳定保持对全部元件的施加电压进而提高测量准确度
4. 通过持续监测测量条件来提高数据的可靠性
-安装温度传感器以确认基板周围的温度变化和分布
- 实时监控电源输出电压,监控测量状态的变化
□增强用户便利性
1. 测量基板实装状态的自动检测功能
-测量开始前，预先检查测量板的晶片实装状态
- 提前筛选实装不良、未实装、元器件不良状态，并反映在数据统计处理中
2. 直观体现测量进行状态和结果的屏幕画面
-通过4种颜色体现和区分各频道的测量状态与判定结果
- 通过各组标签查看测量状态及测量数据的详细信息
- 通过实时图表直观查看测量结果
- 各基板测量结果图表的保存功能
3. 失效时间(TTF)数据实时统计处理
-对失效元器件的失效时间(TTF)数据进行实时自动统计处理
- 显示经过统计处理的失效时间(TTF)的实时图表
4. 通过日常检查/校准功能实现稳定的系统维护管理
- 提供系统校准所需的标准基板
- 检查电压是否正常施加到每个元器件上
- 检查测量系统运行状态是否存在异常
3. 系统操作
□测量方式
漏电流测量法
-标准电阻方式 : 利用标准电阻的电量进行测量。
-在测量过程中向所有通道不间断地施加电压。
□测量结果直观体现
4. 可靠性