MLCC专用xinlai性测试系统 测试箱 8585 HALT 老化试验箱

MLCC可靠性测试系统

[ HALT /8585 ]

1.系统概述

□系统控制柜：

□ 技术规格：

1）供电4组
     *MAX施加电压 : 350 V (1000 V 版本可选)

2）MAX电流 =截止电流电平

3）在施加 300 V电压的情况下

4）周期测量间隔 : *少8分钟(1分钟增量调节)

2.系统特点及优势

□MLCC信赖性评价*优化的系统

1.采用HALT/8585专用高精度继电器B/D，测量精度显著提高
    -使用精密级标准电阻的漏电流测量电路
    -与电流测量方式相比,没有电流的路径变化或瞬间短路,可以进行稳定的测量

2. 尽量减少循环测量时间
    -尽量减少各通道的漏电流测量时间
    - 通过缩短测量间隔来提高各元器件的失效时间(TTF)精度

3. 超过允许电流值时立即切断该通道电压
    -阻断瞬时电流增加对其它元器件测量的影响
    - 稳定保持对全部元件的施加电压进而提高测量准确度

4. 通过持续监测测量条件来提高数据的可靠性
    -安装温度传感器以确认基板周围的温度变化和分布
    - 实时监控电源输出电压,监控测量状态的变化

□增强用户便利性

1. 测量基板实装状态的自动检测功能
    -测量开始前，预先检查测量板的晶片实装状态
   - 提前筛选实装不良、未实装、元器件不良状态，并反映在数据统计处理中

2. 直观体现测量进行状态和结果的屏幕画面
    -通过4种颜色体现和区分各频道的测量状态与判定结果
    - 通过各组标签查看测量状态及测量数据的详细信息
    - 通过实时图表直观查看测量结果
    - 各基板测量结果图表的保存功能

3. 失效时间(TTF)数据实时统计处理
    -对失效元器件的失效时间(TTF)数据进行实时自动统计处理
    - 显示经过统计处理的失效时间(TTF)的实时图表

4. 通过日常检查/校准功能实现稳定的系统维护管理
    - 提供系统校准所需的标准基板
    - 检查电压是否正常施加到每个元器件上
    - 检查测量系统运行状态是否存在异常

3. 系统操作

□测量方式

   漏电流测量法

     -标准电阻方式 : 利用标准电阻的电量进行测量。

     -在测量过程中向所有通道不间断地施加电压。

□测量结果直观体现

4. 可靠性