MHML3230/MHML3230BD正置透反射金相显微镜适用于对不透明物体或透明物体的显微观察,采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念、可提供卓越的光学性能与产品系统升级实现透反射同步或独立照明,偏光观察、暗场观察等功能,产品具有造型美观,操作方便,图像清晰等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
成像、操作舒适的科研级手动金相显微镜NM910专为材料科学探究设计,能够满足各种金属材料、非金属材料、地质材料表面镜检、筛选及科研需求。机械结构稳定、紧凑,工学设计,布局合理,使用舒适,能在自然的姿势下进行显微镜操作。采用经过多年研究和不断改良的NIS无限远光学系统,具有工作距离长,色彩还原度高,成像等的光学品质,成像可靠,提供高对比,清晰明亮的图像。NM910显微镜采用模块化设计,实现明场、暗场、微分干涉、荧光、偏光等观测方法。是半导体器件、FPD、电子器件、材料、精密模具制造的质控和研究的理想工具。
金相显微镜鉴别真假芯片
1、看芯片表面是否有打磨过的痕迹
凡打磨过的芯片表面会有细纹甚至以前印字的微痕,有的为掩盖还在芯片表面涂有一层薄涂料,看起来有点发亮,无塑胶的质感。
2、看印字
现在的芯片绝大多数采用激光打标或用专用芯片印刷机印字,虽不突出显眼,但字迹清晰锐利,且很难擦除。翻新的芯片要么字迹边沿受清洗剂腐蚀而有"锯齿"感,要么印字模糊、深浅不一、位置不正、容易擦除或过于显眼。
金相显微镜MHML3230BD采用超大视野目镜,观察更加平展,主要应用于半导体、FPD、电路板、金属材料等制造领域,适用于教学及研究方面。
3、看芯片生产日期和封装厂标号
翻新的目的是用使用过的芯片冒充新芯片,或用质量不佳的芯片冒充高质量芯片,或是将DateCode更改为较新的日期。由于翻新要掩盖芯片原来的标识和使用特征,因此这种类型的假冒翻新器件比较容易识别,使用体视显微镜进行外部目检、金相显微镜进行塑封材质检查可以发现明显的翻新特征。
如果您有显微镜的需求,无论是科研、教学还是工业应用,我们都非常乐意为您提供合适的显微解决方案。请您详细描述您的具体需求,包括观察对象、放大倍数、成像质量、预算范围等。我们将根据您的需求,为您提供适合的光学显微镜型号、配置和报价。
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