Lightning透射电镜原位热电样品杆
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01产品概况
Lightning TEM原位热电方案是为了帮助研究人员在jingque控制加电和加热环境的同时观察样品变化的实时动态过程，扩展了在TEM中的应用范围。搭配的Lightning Nano-chip 芯片能够提供高精度控制样品偏压和加热环境的能力，能在 900℃高温下同时实现高于300kV/cm 的电场，芯片拥有多种配置，能够满足不同的实验要求，并都能保证 TEM的原子级分辨率成像能力，同时创建了为真实的应用环境。在进行热学研究的同时，在 pA 电流灵敏度下完成 I-V测试，为原位实验研究提供了全新的观察视角。
02产品特点
样品制备简单便捷 1. 样品制备成功率高 使用我们专有的 FIB 样品台、Nano-Chip芯片和详细的 制样流程简化了整个制样过程。 2. 优质的 FIB 薄片 直接在芯片上进行终减薄，而不影响加热和加电性能。 | |
可靠的环境刺激控制 1. 控制加热和加电 四探针法为加热和加电设计提供了准确的温度、电压和 电流控制。 2. 原位环境刺激范围广 基于 MEMS 的 Nano-Chip 芯片旨在单独或同时承受高 温度和电场。 3. 可靠的温度 可通过使用 EELS 和 SAED 技术在 TEM 中直接验证温 度。 | |
高质量的数据结果 1. 全新的观察视角 进行热学研究的同时，在具有真正pA 电流灵敏度的条件 下测量 I-V。 2. 超高稳定性 即使温度达到 1000 °C（ΔT = 1000 °C），漂移率也小 于 200nm，样品稳定时间短，即使在高电压下也能达到 原子级分辨率。 3. 不受影响的 STEM/TEM性能 较小的 Z轴位移（膨胀）保证了分辨率不受影响，且无 需移动样品台。 | |
03.案例分享
下图是在 800℃的条件下，我们对样品进行加电实验，观察样品核壳纳米材料在 HRTEM下显示的结构变化，并且此时电压可以达到极高值。样品杆具有极高的稳定性，即便在高温度和电场环境下，也能实现常规的原子分辨率成像。
04应用领域
05原位实验技术简介
透射电子显微镜（TEM）一直是观察微观世界的有力工具。尤其是球差矫正器的出现，科学家已经可以实现在原子尺度上对材料的化学结构进行表征成像。此外，TEM的进步也带动了 CCD 相机的发展，这样，TEM 就同时具有优异的空间分辨率和时间分辨率，那么时间和空间的结合，是否可以让 TEM动起来？
众所皆知，TEM需要在高真空条件下表征静止状态下的样品，但这不足以反映材料在真实环境下的微观结构。为此，荷兰 DENSsolutions公司多位科学家利用新的 MEMS 技术，设计出了独特的纳米芯片，据此可以向 TEM中引入动态外界刺激条件，模拟样品在真实环境下的状态，打破压力的限制，记录样品的动态变化过程，让TEM真正的实现动起来。
荷兰 DENSsolutions公司为透射电镜提供技术先进的、纳米尺度的原位显微工具，其产品可以为原位 TEM 样品施加外界刺激，捕捉 TEM样品在真实环境下的动态现象。目前，已经可以在 TEM 中引入气、液、热、电等多种状态。
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