项目 | 要求及指标 | |
输入电压范围 | 220V±10%,50Hz/60Hz | |
测试电流范围 | 0.5~150A,1%RD±0.2%fs | |
测试开路电压精度 | 1%RD±0.2%fs | |
试验模式 | 熔断时间测试M1和耐久性测试M2 | |
测试时间范围
| M1模式时间范围:10mS--60分钟 M2模式时间范围:10mS--100小时 | |
耐久性时间设置 | 0~99H59M | |
次数设置 | 0~9999次 | |
时间分辨率 | 10ms | |
测试电流步 | 50mA~1A,可设置 | |
测试电流精度 | M1模式< ±0.4%SET +50mA(‘SET’为设置数值), M2模式<±0.5%SET +100mA(‘SET’为设置数值) | |
测试时间精度 | M1模式< ±10mS+0.3%RD(‘RD’为实际工作时间数值), M2模式<±10mS+0.5%RD(‘RD’为实际工作时间数值) | |
显示方式 | 7寸触摸屏显示 | |
控制方式 | FPGA+ARM 控制 | |
其他 | 支持外接U盘拷贝试验数据、数据保存功能,免费开放通信接口及提供底层通信协议 |
上一讲主要讲述了到底是哪些原因引发了T/R组件测试安全性问题,它涉及到操作人员、被测T/R组件、测试仪器、测试程序和测试数据等多方面的安全问题,那怎么实现安全性增长呢?加强操作人员的防护和被测组件的隔离(铁布衫+钟罩)笔者经常在内各大工院所中发现操作人员自身的防护观念较为淡漠,普遍嫌麻烦。在大功率测试环境下,操作人员应该佩戴防护面具、眼镜和防辐射工作服。科研人员不是义和团,你以为自己刀不入呢?老老实实穿上铁布衫吧。Mentor嵌入式多核框架能消除异构硬件和软件环境的管理复杂性,从而简化SoC系统设计异构多处理对于当今的嵌入式应用来说正变得越来越重要。片上系统(SoC)架构,赛灵思的Zyn提供包含四个ARMCortex-A53内核以及两个ARMCortex-R5内核的强大异构多处理基础架构。除了核心的计算基础架构外,SoC还包含一系列丰富的硬化外设IP和FPGA架构,可实现灵活的设计模式,从而帮助系统开发人员创建高性能多处理系统。