江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪
微聚焦射线管、先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品
技术参数
元素分析范围：氯（CI）-铀（U）
厚度分析范围：各种元素及有机物
一次性同时分析：23层镀层，24种元素
厚度Zuidi检出限：0.005um
Zuixiao测量面积:0.002m㎡
对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）
样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
仪器尺寸：550mm*480mm*470mm
仪器重量：55kg
目前涂层测厚仪(膜厚仪）所采用的原理基本是以下几种：
1.放射性测厚法：利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵（一般在10万人民bi以上）。适用于一些特殊环境，各项技术参数要求相对比较高，膜厚测试仪，使用范围相对狭窄。
2.超声波测厚法：利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵，测量精度也不高，国内暂时还没有投入生产。
3. 微波激光测厚法：正在研发中。
4. 电解测厚法：需要破坏涂层，属于有损检测，基本上已弃用。
5. 涡流测厚法：利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。
6.磁性测厚法：适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪，fischer膜厚仪，这种方法测量结果精度高。
目前国内的涂层测厚仪基本是采用涡流测厚法或磁性测厚法或二者相结合的原理。
江苏一六仪器 专业涂层镀层厚度检测 欢迎来电详询
电子元件测厚仪
一次性同时分析：23层镀层，24种元素
厚度Zuidi检出限：0.005um
Zuixiao测量面积:0.002m㎡
对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）
样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
仪器尺寸：550mm*480mm*470mm
仪器重量：55kg
影响膜厚仪测量的的客观因素
应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，测膜厚仪，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，膜厚仪波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。
江苏一六仪器 线路板PC板类镀层分析通用型测厚仪
微聚焦射线管、先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品
技术参数
元素分析范围：氯（CI）-铀（U）
厚度分析范围：各种元素及有机物
一次性同时分析：23层镀层，24种元素
厚度Zuidi检出限：0.005um
Zuixiao测量面积:0.002m㎡
对焦距离：0-90（测试凹槽，可变焦）
样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
仪器尺寸：550mm*480mm*470mm
仪器重量：55kg
业内认可的常用方法
一、磁性式
1，价格经济，约1千~2万，具体材料的差别需另外购买测头，且镀膜的种类有限制。
2，无损检测，使用简便，方便检测大型的工件，体积小，约400cm2，300g左右。
3，膜厚仪，测量厚度范围广，非金属2~2000um左右，金属镀层2~40um左右，但只能测试单层膜厚。
4，测量误差大，5%左右，分辨率低，1um左右。
5，测头的面积偏大，对需测的样品要求高：须有较大的平面用来测试（7mmψ左右），基材厚度在0.35mm以上，而且面对不同的形状和材质都需进行校正
二、涡电流式
三、红外测厚仪
四、电解式（库伦法）
五、金相测试法
六、非破坏荧光式（X光）
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